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Informazioni sul prodotto
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Info sui prodotti "OTC-KS-NV-SP-004-004"
- Componenti per il test Opens per il test capacitivo di chip semiconduttori alla ricerca di guasti, cortocircuiti e difetti di saldatura
- Adatto a tutti i sistemi di test Keysight 307x con versione software 9.2 o superiore
- Migliore ripetibilità, copertura dei test e rilevamento dei guasti rispetto alla tecnologia VTEP
| Altezza: | 3,1 mm |
|---|---|
| Conforme a RoHS: | sì |
| Dimensioni esterne (LxPxA): | 4 x 4 x 3,1 mm |
| Gruppo di prodotti: | opens test |
| Kit di ricambio WS: | WS Keysight |
| Larghezza: | 4 mm |
| Lunghezza: | 4 mm |
| Stato di consegna: | Senza amplificatore nanoVTEP |
| Temperatura max.: | 60 °C |
| Temperatura min.: | 10 °C |
| Tipo: | Test vettoriale Keysight |
| Tipo di accessorio: | accessori di ampliamento |
| Versione: | nanoVTEP SP 0,16 pollici |
| connettori di prova per vuoto (VA): | VA 2070S/L, VA 3070S/L |
| serie: | OTC |
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Dettagli del prodotto
- Componenti per il test Opens per il test capacitivo di chip semiconduttori alla ricerca di guasti, cortocircuiti e difetti di saldatura
- Adatto a tutti i sistemi di test Keysight 307x con versione software 9.2 o superiore
- Migliore ripetibilità, copertura dei test e rilevamento dei guasti rispetto alla tecnologia VTEP
Altri prodotti di questa serie:
Dati tecnici
Dati generali
- Gruppo di prodotti: opens test
- serie: OTC
- Tipo: Test vettoriale Keysight
- Versione: nanoVTEP SP 0,16 pollici
- Tipo di accessorio: accessori di ampliamento
- Stato di consegna: Senza amplificatore nanoVTEP
- Larghezza: 4 mm
- Altezza: 3,1 mm
- Temperatura min.: 10 °C
- Temperatura max.: 60 °C
- Conforme a RoHS: sì
Dati tecnici
- Lunghezza: 4 mm
- Dimensioni esterne (LxPxA): 4 x 4 x 3,1 mm
Adatto per
- connettori di prova per vuoto (VA): VA 3070S/L, VA 2070S/L
- Kit di ricambio WS: WS Keysight
Strumenti e accessori adatti
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